一、考試方式
考試采用筆試方式,考試時間為180分鐘,試卷滿分為150分。
二、試卷結構與分數比重
試題分為名詞解釋、簡答題、證明題、計算題、論述題等。其中:名詞解釋占20%,簡答題占30%,證明題占10%,計算題占10%,論述題占30%。
三、考查的知識范圍
1.半導體中的電子狀態(tài)(10%):能帶論,半導體中的電子運動、有效質量,本征半導體的導電機制、空穴,鍺、硅、砷化鎵和鍺硅的能帶結構。
2.載流子的統(tǒng)計分布(15%):狀態(tài)密度,費米能級和載流子的統(tǒng)計分布,本征半導體的載流子濃度,雜質半導體的載流子濃度。一般情況下的載流子的統(tǒng)計分布。
3.半導體的導電性(15%):載流子的漂移運動,載流子的散射,遷移率與雜質濃度和溫度的關系,玻爾茲曼方程;強電場效應,熱載流子。
4.非平衡載流子(20%):非平衡載流子的注人與復合,非平衡載流子的壽命,準費米能級,復合理論,陷阱效應,載流子的擴散運動、連續(xù)性方程。
5.PN結(15%):PN結及其能帶圖,PN結電流電壓特性。
6.金屬和半導體的接觸(10%):金屬和半導體接觸的整流理論,少數載流子的注入,歐姆接觸。
7.半導體表面與MIS結構(15%):表面電場效應,理想與非理想的MIS結構的C-V特性,Si-SiO2系統(tǒng)的性質,表面電導。
四、參考書目
《半導體物理學》(第7版),劉恩科主編,電子工業(yè)出版社
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